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J-GLOBAL ID：201902227573680445 整理番号：19A0185309

論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について

Evaluation of Flexible Test Power Control for Logic BIST in TEG Chips

著者 (4件)：

加藤隆明

(九州工大)

WANG Senling

(愛媛大)

佐藤康夫

(九州工大)

梶原誠司

(九州工大)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 118 号： 334(VLD2018 40-71) ページ： 125-130 発行年： 2018年11月28日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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