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文献
J-GLOBAL ID：201902227935801575
整理番号：19A0186863
三角LPテストを用いた区分線形抵抗回路のすべての解の発見【JST・京大機械翻訳】
Finding All Solutions of Piecewise-Linear Resistive Circuits Using Triangular LP Test
Yamamura Kiyotaka
(Faculty of Science and Engineering, Chuo University, Tokyo, 112-8551, Japan)
,
Takahara Hiroki
(Faculty of Science and Engineering, Chuo University, Tokyo, 112-8551, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： APCCAS ページ： 243-246 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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