文献
J-GLOBAL ID:201902227946469487
整理番号:19A1485926
テスト後リスクに基づく故障サンプルサイズの決定のためのBayes法について【JST・京大機械翻訳】
On Bayes Method for Determination of Fault Sample Size Based on Post-test Risk
著者 (3件):
Zhou Kui
(Institute of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering)
,
Sun Shiyan
(Institute of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering)
,
Sun Qiang
(Institute of Weaponry Engineering, Naval University of Engineering)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ITOEC
ページ:
144-148
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)