文献
J-GLOBAL ID:201902230840024232
整理番号:19A1414514
拡張したSWIR InAs/II型超格子フォトダイオードにおける電子に対する少数キャリア拡散長【JST・京大機械翻訳】
Minority carrier diffusion length for electrons in an extended SWIR InAs/AlSb type-II superlattice photodiode
著者 (7件):
Cohen-Elias D.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
,
Snapi N.
(SCD-SemiConductor Devices, P.O. Box 2250, Haifa 31021, Israel)
,
Klin O.
(SCD-SemiConductor Devices, P.O. Box 2250, Haifa 31021, Israel)
,
Weiss E.
(SCD-SemiConductor Devices, P.O. Box 2250, Haifa 31021, Israel)
,
Shusterman S.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
,
Meir T.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
,
Katz M.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
111
号:
20
ページ:
201106-201106-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)