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J-GLOBAL ID:201902230840024232   整理番号:19A1414514

拡張したSWIR InAs/II型超格子フォトダイオードにおける電子に対する少数キャリア拡散長【JST・京大機械翻訳】

Minority carrier diffusion length for electrons in an extended SWIR InAs/AlSb type-II superlattice photodiode
著者 (7件):
Cohen-Elias D.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
Snapi N.
(SCD-SemiConductor Devices, P.O. Box 2250, Haifa 31021, Israel)
Klin O.
(SCD-SemiConductor Devices, P.O. Box 2250, Haifa 31021, Israel)
Weiss E.
(SCD-SemiConductor Devices, P.O. Box 2250, Haifa 31021, Israel)
Shusterman S.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
Meir T.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)
Katz M.
(Solid State Physics Department, Applied Physics Division, Soreq NRC, Yavne 81800, Israel)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 111  号: 20  ページ: 201106-201106-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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