文献
J-GLOBAL ID:201902231115358066
整理番号:19A1408778
シリコン電極上の固体電解質界面における歪誘起リチウム損失【JST・京大機械翻訳】
Strain-Induced Lithium Losses in the Solid Electrolyte Interphase on Silicon Electrodes
著者 (5件):
Kumar Ravi
(School of Engineering, Brown University, Rhode Island, United States)
,
Lu Peng
(General Motors Global R&D Center, Michigan, United States)
,
Xiao Xingcheng
(General Motors Global R&D Center, Michigan, United States)
,
Huang Zhuangqun
(Bruker Nano Surfaces, California, United States)
,
Sheldon Brian W.
(School of Engineering, Brown University, Rhode Island, United States)
資料名:
ACS Applied Materials & Interfaces
(ACS Applied Materials & Interfaces)
巻:
9
号:
34
ページ:
28406-28417
発行年:
2017年08月30日
JST資料番号:
W2329A
ISSN:
1944-8244
CODEN:
AAMICK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)