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文献
J-GLOBAL ID：201902231339131289
整理番号：19A0510537
高密度波長ビーム結合大面積ダイオードレーザにおけるビーム品質劣化【JST・京大機械翻訳】
Beam Quality Deterioration in Dense Wavelength Beam-Combined Broad-Area Diode Lasers
Haas Matthias
(TRUMPF Laser GmbH, Schramberg, Germany)
,
Rauch Simon
(TRUMPF Laser GmbH, Schramberg, Germany)
,
Nagel Simon
(TRUMPF Laser GmbH, Schramberg, Germany)
,
Beibwanger Rolf
(TRUMPF Laser GmbH, Schramberg, Germany)
,
Dekorsy Thomas
(Department of Physics and Center of Applied Photonics, University of Konstanz, Konstanz, Germany)
,
Zimer Hagen
(TRUMPF Photonics Inc., Cranbury, NJ, USA)
資料名：
IEEE Journal of Quantum Electronics
(IEEE Journal of Quantum Electronics)
巻： 53 号： 3 ページ： ROMBUNNO.2600111.1-11 発行年： 2017年
JST資料番号： H0432A ISSN： 0018-9197 CODEN： IEJQA7 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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