文献
J-GLOBAL ID:201902232241819864
整理番号:19A0510599
SNEM:近端測定からの完全Sパラメータ合成【JST・京大機械翻訳】
SNEM: Full S-Parameter Synthesis From Near-End Measurement
著者 (12件):
Chu Yunhui
(Intel, Hillsboro, OR, USA)
,
Xiao Kai
(Intel, Hillsboro, OR, USA)
,
Ho Yu
(Intel, Chandler, AZ, USA)
,
Friar Robert
(Intel, Hillsboro, OR, USA)
,
Ouyang Gong
(Intel, DuPont, WA, USA)
,
Lee Beomtaek
(Intel, Hillsboro, OR, USA)
,
Zhang Zhichao
(Intel, Chandler, AZ, USA)
,
Ye Xiaoning
(Intel, Hillsboro, OR, USA)
,
Phares Charles
(Intel, Hillsboro, OR, USA)
,
Tabatchnick Justin
(Intel, Folsom, CA, USA)
,
Vasanth Akshith
(Intel, Folsom, CA, USA)
,
Kaur Guneet
(Intel, Chandler, AZ, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
(IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻:
59
号:
4
ページ:
1302-1311
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0383A
ISSN:
0018-9375
CODEN:
IEMCAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)