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文献
J-GLOBAL ID:201902233442312047   整理番号:19A2620216

TEGを用いたAlGaN/GaNヘテロ成長の2DEG側界面電荷への影響

著者 (13件):
沖田寛昌
(東京工大)
星井拓也
(東京工大)
松橋泰平
(東京工大)
SANYAL Indraneel
(國立中央大)
CHEN Yu-Chih
(國立中央大)
JU Ying-Hao
(國立中央大)
中島昭
(産業技術総合研)
西澤伸一
(九大)
大橋弘通
(東京工大)
角嶋邦之
(東京工大)
若林整
(東京工大)
CHYI Jen-Inn
(國立中央大)
筒井一生
(東京工大)

資料名:
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))

巻: 80th  ページ: ROMBUNNO.21a-E301-12  発行年: 2019年09月04日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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