文献
J-GLOBAL ID:201902233664931020
整理番号:19A0090976
低周波振動環境における電子製品の信頼性解析【JST・京大機械翻訳】
Reliability Analysis of Electronic Products in Medium Low Frequency Vibration Environment
著者 (5件):
Qi Yaxin
(北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854)
,
Chen Song
(北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854)
,
Wang Zhicai
(北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854)
,
Liu Weibing
(北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854)
,
Jiang Hui
(北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854)
資料名:
Huanjing Jishu
(Huanjing Jishu)
巻:
36
号:
5
ページ:
46-51
発行年:
2018年
JST資料番号:
C3765A
ISSN:
1004-7204
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
中国語 (ZH)