文献
J-GLOBAL ID:201902233736505309
整理番号:19A1804908
走査型イオンコンダクタンス顕微鏡におけるイオン電流-距離挙動の正確なモデルはピペットチップ形状とチップ-サンプル距離のキャリブレーションを可能にする【JST・京大機械翻訳】
An Accurate Model for the Ion Current-Distance Behavior in Scanning Ion Conductance Microscopy Allows for Calibration of Pipet Tip Geometry and Tip-Sample Distance
著者 (2件):
Rheinlaender Johannes
(Institute of Applied Physics, University of Tuebingen, Germany)
,
Schaeffer Tilman E.
(Institute of Applied Physics, University of Tuebingen, Germany)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
89
号:
21
ページ:
11875-11880
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)