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J-GLOBAL ID:201902234540644109   整理番号:19A1414682

高破壊電圧のヘテロ接合p-Cu_2O/n-Ga_2O_3ダイオード【JST・京大機械翻訳】

Heterojunction p-Cu2O/n-Ga2O3 diode with high breakdown voltage
著者 (6件):
Watahiki Tatsuro
(Advanced Technology R&D Center, Mitsubishi Electric Corporation, 8-1-1 Tsukaguchi-Honmachi, Amagasaki, 661-8661 Hyogo, Japan)
Yuda Yohei
(Advanced Technology R&D Center, Mitsubishi Electric Corporation, 8-1-1 Tsukaguchi-Honmachi, Amagasaki, 661-8661 Hyogo, Japan)
Furukawa Akihiko
(Advanced Technology R&D Center, Mitsubishi Electric Corporation, 8-1-1 Tsukaguchi-Honmachi, Amagasaki, 661-8661 Hyogo, Japan)
Yamamuka Mikio
(Advanced Technology R&D Center, Mitsubishi Electric Corporation, 8-1-1 Tsukaguchi-Honmachi, Amagasaki, 661-8661 Hyogo, Japan)
Takiguchi Yuki
(Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 O-okayama, Meguro, Tokyo 152-8550, Japan)
Miyajima Shinsuke
(School of Engineering, Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 O-okayama, Meguro, Tokyo 152-8550, Japan)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 111  号: 22  ページ: 222104-222104-3  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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