文献
J-GLOBAL ID:201902234833842322
整理番号:19A2073010
クラスタリング欠陥を伴う時間依存絶縁破壊に関する寿命分布パラメータのベイズ推定
Bayesian inference of a lifetime distribution parameter on the time-dependent dielectric breakdown with clustering defects
著者 (3件):
KUNII Kyosuke
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
,
ENDO Shun
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
,
YOKOGAWA Shinji
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
58
号:
SH
ページ:
SHHG02.1-SHHG02.8
発行年:
2019年07月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)