文献
J-GLOBAL ID:201902238892028562
整理番号:19A0511992
0.1から1MA/μm2までの臨界電流密度を持つ非シャントおよび抵抗分路Nb/AlOx-Al/Nb Josephson接合の特性【JST・京大機械翻訳】
Properties of Unshunted and Resistively Shunted Nb/AlOx-Al/Nb Josephson Junctions With Critical Current Densities From 0.1 to 1 mA/μm2
著者 (8件):
Tolpygo Sergey K.
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Bolkhovsky Vladimir
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Zarr Scott
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Weir T. J.
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Wynn Alex
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Day Alexandra L.
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Johnson L. M.
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
,
Gouker M. A.
(Lincoln Laboratory, Massachusetts Institute of Technology, Lexington, MA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
27
号:
4
ページ:
ROMBUNNO.1100815.1-15
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)