文献
J-GLOBAL ID:201902241630570742
整理番号:19A0037043
強誘電分極スイッチングにより生じるMFMISおよびMFISトランジスタのサブしきい値挙動【JST・京大機械翻訳】
Subthreshold Behavior of MFMIS and MFIS Transistors caused by Ferroelectric Polarization Switching
著者 (5件):
Han Qinghua
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9) and JARA-FIT, Forschungszentrum Juelich, Juelich, 52428, Germany)
,
Aleksa Paulus
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9) and JARA-FIT, Forschungszentrum Juelich, Juelich, 52428, Germany)
,
Schubert Juergen
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9) and JARA-FIT, Forschungszentrum Juelich, Juelich, 52428, Germany)
,
Mantl Siegfried
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9) and JARA-FIT, Forschungszentrum Juelich, Juelich, 52428, Germany)
,
Zhao Qing-Tai
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9) and JARA-FIT, Forschungszentrum Juelich, Juelich, 52428, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ICSICT
ページ:
1-4
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)