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文献
J-GLOBAL ID：201902244071482117
整理番号：19A0120106
論理BISTにおける部分観測によるマルチサイクルスキャンテストのためのフリップフロップ選択について【JST・京大機械翻訳】
On Flip-Flop Selection for Multi-cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST
Oshima Shigeyuki
,
Kato Takaaki
,
Wang Senling
,
Sato Yasuo
,
Kajihara Seiji
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ATS ページ： 30-35 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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