文献
J-GLOBAL ID:201902245182487376
整理番号:19A1334885
エレクトロマイグレーション信頼性試験に続く応力マイグレーション【JST・京大機械翻訳】
Stress Migration Followed by Electromigration Reliability Testing
著者 (3件):
Passage J.M.
(SUNY Polytechnic Institute, Albany, 12203, USA)
,
Azhari N.
(SUNY Polytechnic Institute, Albany, 12203, USA)
,
Lloyd J.R.
(SUNY Polytechnic Institute, Albany, 12203, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
IRPS
ページ:
1-5
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)