文献
J-GLOBAL ID:201902245956888389
整理番号:19A0524110
光学プローブを用いたプローブ装荷TEMセルの精密なEファイル均一性測定【JST・京大機械翻訳】
Precision E-field uniformity measurement of a probe loaded TEM cell using an optical probe
著者 (4件):
Moirioka Takehiro
(Electromagnetic Fields Standard Group, National Institute of Industrial Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki Japan)
,
Kurokawa Satoru
(Electromagnetic Fields Standard Group, National Institute of Industrial Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki Japan)
,
Toba Yoshikazu
(Seikoh Giken Co., Ltd., Matsuhidai 415-2, Matsudo, Chiba 270-2214, Japan)
,
Ichijyo Jun
(Seikoh Giken Co., Ltd., Matsuhidai 415-2, Matsudo, Chiba 270-2214, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
URSI AP-RASC
ページ:
1-3
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)