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文献
J-GLOBAL ID：201902249960153277
整理番号：19A0527601
残留電流素子のトリップに及ぼす電流遅延角の影響【JST・京大機械翻訳】
The effect of current delay angle on tripping of residual current devices
Czapp Stanislaw
(Faculty of Electrical and Control Engineering, Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland)
,
Horiszny Jacek
(Faculty of Electrical and Control Engineering, Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IDT ページ： 90-94 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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