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J-GLOBAL ID：201902250100494916 整理番号：19A1700770

Si(111)基板上Ag(111)超薄膜の有効量子井戸幅評価

著者 (5件)：

菅原喜周

(東京工大理)

板倉悠太

(東京工大理)

山崎詩郎

(東京工大理)

中辻寛

(東京工大)

平山博之

(東京工大理)

資料名：

日本物理学会講演概要集(CD-ROM) (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))

巻： 74 号： 1 ページ： ROMBUNNO.15aK204-2 発行年： 2019年03月22日
JST資料番号： S0671C ISSN： 2189-079X 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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