文献
J-GLOBAL ID:201902253067618479
整理番号:19A0187251
FPGA実装Viterbi復号器におけるユーザメモリに及ぼす単一イベントアップセット(SEUS)の影響の解析【JST・京大機械翻訳】
Analysis of the Effects of Single Event Upsets (SEUs) on User Memory in FPGA Implemented Viterbi Decoders
著者 (5件):
Gao Zhen
(Tianjin University, School of Electrical and Information Engineering, Tianjin, 300072, China)
,
Yan Lina
(Tianjin University, School of Electrical and Information Engineering, Tianjin, 300072, China)
,
Zhu Jinhua
(Tianjin University, School of Electrical and Information Engineering, Tianjin, 300072, China)
,
Han Ruishi
(Tianjin University, School of Electrical and Information Engineering, Tianjin, 300072, China)
,
Reviriego Pedro
(Universidad Antonio de Nebrija, ARIES Research Center, Madrid, 28040, Spain)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
DFT
ページ:
1-6
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)