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文献
J-GLOBAL ID:201902255416666058   整理番号:19A0251448

近閾値SRAM設計のための収率最適化法による効率的なHIHG-SIGMA収率解析【JST・京大機械翻訳】

Efficient Hihg-Sigma Yield Analysis with Yield Optimization Method for Near-Threshold SRAM Design
著者 (6件):
Jiang Chengzhi
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
Fan Xiaoming
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
Xing Yan
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
Qi Xiangkun
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
Wang Yang
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
Wang He
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2018  号: ICICM  ページ: 73-79  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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