文献
J-GLOBAL ID:201902255416666058
整理番号:19A0251448
近閾値SRAM設計のための収率最適化法による効率的なHIHG-SIGMA収率解析【JST・京大機械翻訳】
Efficient Hihg-Sigma Yield Analysis with Yield Optimization Method for Near-Threshold SRAM Design
著者 (6件):
Jiang Chengzhi
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
,
Fan Xiaoming
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
,
Xing Yan
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
,
Qi Xiangkun
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
,
Wang Yang
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
,
Wang He
(China Academy of Space Technology(Cast), Beijing, 100094, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ICICM
ページ:
73-79
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)