文献
J-GLOBAL ID:201902257156312251
整理番号:19A0704646
ネットワークオンチップ再使用試験アクセス機構のための試験モード中のネットワーク負荷解析【JST・京大機械翻訳】
Network Load Analysis During Test Mode for the Network-on-Chip Reused Test Access Mechanisms
著者 (1件):
Ansari Muhammad Adil
(Electronic Engineering Department, Science & Technology, Quaid-e-Awam University College of Engineering, Pakistan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
iCCECE
ページ:
323-327
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)