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文献
J-GLOBAL ID：201902260370811829
整理番号：19A0658519
緩い半導体粉末の屈折率と絶対吸収を推定するための自己参照法【JST・京大機械翻訳】
Self-Referenced Method for Estimating Refractive Index and Absolute Absorption of Loose Semiconductor Powders
Huang Huafeng
(Department of Chemistry, State University of New York at Stony Brook, New York, United States)
,
Colabello Diane M.
(Department of Chemistry, State University of New York at Stony Brook, New York, United States)
,
Sklute Elizabeth C.
(Department of Geosciences, Stony Brook University, New York, United States)
,
Glotch Timothy D.
(Department of Geosciences, Stony Brook University, New York, United States)
,
Khalifah Peter G.
(Department of Chemistry, State University of New York at Stony Brook, New York, United States)
,
Khalifah Peter G.
(Department of Chemistry, Brookhaven National Laboratory, New York, United States)
資料名：
Chemistry of Materials
(Chemistry of Materials)
巻： 29 号： 11 ページ： 4632-4640 発行年： 2017年
JST資料番号： T0893A ISSN： 0897-4756 CODEN： CMATEX 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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