文献
J-GLOBAL ID:201902262442385447
整理番号:19A1962153
BISTのための決定論的テストパターンを再生するための畳込みニューラルネットワークの応用【JST・京大機械翻訳】
Application of Convolutional Neural Networks to Regenerate Deterministic Test Patterns for BIST
著者 (2件):
Inamoto Tsutomu
(Graduate School of Science and Engineering, Ehime University)
,
Higami Yoshinobu
(Graduate School of Science and Engineering, Ehime University)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ITC-CSCC
ページ:
1-2
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)