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文献
J-GLOBAL ID：201902262918202877
整理番号：19A2745055
宇宙応用のための0.25μm SiGe技術の信頼性評価【JST・京大機械翻訳】
Reliability evaluation of a 0.25 μm SiGe technology for space applications
Robin C.
(Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France)
,
Rochette S.
(Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France)
,
Desgrez S.
(Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France)
,
Muraro J.L.
(Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France)
,
Langrez D.
(Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France)
,
Roux J.L.
(CNES Toulouse, 18 Av. Edouard Belin, 31055 Toulouse, France)
,
Krstic M.
(IHP GmbH Leibniz-Institut fuer innovative, Mikroelektronik Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 100-101 ページ： Null 発行年： 2019年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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