文献
J-GLOBAL ID:201902264392333533
整理番号:19A0511985
亀裂を有する多層超伝導膜におけるJ_c測定のための非接触法の数値シミュレーション【JST・京大機械翻訳】
Numerical Simulation of Contactless Method for Measuring $j_¥mathrm{C}$ in Multiple-Layered Superconducting Film With Cracks
著者 (3件):
Takayama T.
(Department of Informatics, Yamagata University, Yamagata, Japan)
,
Saitoh A.
(Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yamagata, Japan)
,
Kamitani A.
(Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yamagata, Japan)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
27
号:
4
ページ:
ROMBUNNO.9000805.1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)