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J-GLOBAL ID：201902264439794349 整理番号：19A1402683

スパッタ法による高配向Bi-Te薄膜の成膜と電子状態解析

著者 (8件)：

齊藤雄太

(産業技術総合研)

FONS Paul

(産業技術総合研)

牧野孝太郎

(産業技術総合研)

MITROFANOV Kirill V.

(産業技術総合研)

上杉文彦

(物質・材料研究機構)

竹口雅樹

(物質・材料研究機構)

KOLOBOV Alexander V.

(産業技術総合研)

富永淳二

(産業技術総合研)

資料名：

日本金属学会講演概要(CD-ROM) (Collected Abstracts of Spring Meeting of the Japan Institute Metals and Materials (CD-ROM))

巻： 164th ページ： ROMBUNNO.369 発行年： 2019年03月06日
JST資料番号： S0988B ISSN： 2433-3093 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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