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文献
J-GLOBAL ID:201902264964407960   整理番号:19A1893673

超低エネルギー非晶質化を可能にする逆抵抗変化Cr_2Ge_2Te_6ベースPCRAM【JST・京大機械翻訳】

Inverse Resistance Change Cr2Ge2Te6-Based PCRAM Enabling Ultralow-Energy Amorphization
著者 (7件):
Hatayama Shogo
(Department of Materials Science, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan)
Sutou Yuji
(Department of Materials Science, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan)
Shindo Satoshi
(Department of Materials Science, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan)
Saito Yuta
(Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Japan)
Song Yun-Heub
(Department of Electronic Engineering, Hanyang University, Korea)
Ando Daisuke
(Department of Materials Science, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan)
Koike Junichi
(Department of Materials Science, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan)

資料名:
ACS Applied Materials & Interfaces  (ACS Applied Materials & Interfaces)

巻: 10  号:ページ: 2725-2734  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2329A  ISSN: 1944-8244  CODEN: AAMICK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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