文献
J-GLOBAL ID:201902266738029983
整理番号:19A1558566
超高速遅延線同調と深層学習による高速高感度分光誘導Raman散乱顕微鏡法【JST・京大機械翻訳】
High-speed, high-sensitivity spectroscopic stimulated Raman scattering microscopy by ultrafast delay-line tuning and deep learning
著者 (5件):
Lin Haonan
(Department of Biomedical Engineering)
,
Deng Fengyuan
(Department of Electrical & Computer Engineering, Boston University, Boston, MA, 02215, USA)
,
Huang Kai-Chih
(Department of Biomedical Engineering)
,
Lee Hyeon Jeong
(Department of Electrical & Computer Engineering, Boston University, Boston, MA, 02215, USA)
,
Cheng Ji-Xin
(Department of Electrical & Computer Engineering, Boston University, Boston, MA, 02215, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
CLEO
ページ:
1-2
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)