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文献
J-GLOBAL ID：201902266918016413
整理番号：19A1381191
IGBTウエハのインライン状態監視のためのAR支援スマートセンシング【JST・京大機械翻訳】
AR-Aided Smart Sensing for In-Line Condition Monitoring of IGBT Wafer
Li Kongjing
(School of Engineering, Newcastle University, Newcastle upon Tyne, U.K.)
,
Tian Gui Yun
(School of Engineering, Newcastle University, Newcastle upon Tyne, U.K.)
,
Chen Xiaotian
(School of Engineering, Newcastle University, Newcastle upon Tyne, U.K.)
,
Tang Chaoqing
(School of Engineering, Newcastle University, Newcastle upon Tyne, U.K.)
,
Luo Haoze
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
,
Li Wuhua
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
,
Gao Bin
(School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
He Xiangning
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
,
Wright Nick
(School of Engineering, Newcastle University, Newcastle upon Tyne, U.K.)
資料名：
IEEE Transactions on Industrial Electronics
(IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻： 66 号： 10 ページ： 8197-8204 発行年： 2019年
JST資料番号： C0234A ISSN： 0278-0046 CODEN： ITIED6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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