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文献
J-GLOBAL ID：201902267820750018
整理番号：19A2744945
電気パルスによる電源の破壊解析【JST・京大機械翻訳】
Destruction analyses of power supplies due to electric pulse
Mejecaze G.
(CEA, DAM, CEA - Gramat, F-46500 Gramat, France)
,
Mejecaze G.
(Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France)
,
Dubois T.
(Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France)
,
Curos L.
(CEA, DAM, CEA - Gramat, F-46500 Gramat, France)
,
Curos L.
(Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France)
,
Puybaret F.
(CEA, DAM, CEA - Gramat, F-46500 Gramat, France)
,
Vinassa J.-M.
(Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 100-101 ページ： Null 発行年： 2019年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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