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文献
J-GLOBAL ID：201902268491935077
整理番号：19A2699562
GaN FET抵抗性混合器を設計するためのRF,LOおよびIFインピーダンスを決定するための簡単で低コストな測定試験装置【JST・京大機械翻訳】
Simple and Low-Cost Measurement Test Setup to Determine the RF, LO and IF Impedances for Designing GaN FET Resistive Mixer
Perez-Wences C.
(Centro de Investigacio ́n y Estudios Avanzados del I. P. N. Unidad Guadalajara, Zapopan, Jalisco, Me ́xico)
,
Loo-Yau J. R.
(Centro de Investigacio ́n y Estudios Avanzados del I. P. N. Unidad Guadalajara, Zapopan, Jalisco, Me ́xico)
,
Moreno P.
(Centro de Investigacio ́n y Estudios Avanzados del I. P. N. Unidad Guadalajara, Zapopan, Jalisco, Me ́xico)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： MWSCAS ページ： 544-547 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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