文献
J-GLOBAL ID:201902268984896525
整理番号:19A2176527
OPV材料中のイオン不純物の新しい測定法【JST・京大機械翻訳】
Novel measurement method of ion impurity in OPV materials
著者 (6件):
Inoue Masaru
(TOYOTech LLC, 110 Fremont, CA 94538, U.S.A.)
,
Oyabu Noriaki
(TOYOTech LLC, 110 Fremont, CA 94538, U.S.A.)
,
Kumoda Yo
(TOYO Corporation, One Technologies Company, Chuo-ku, Tokyo 103-8284, Japan)
,
Suenaga Yu
(TOYO Corporation, One Technologies Company, Chuo-ku, Tokyo 103-8284, Japan)
,
Ishii Tomoya
(TOYO Corporation, One Technologies Company, Chuo-ku, Tokyo 103-8284, Japan)
,
Naito Hiroyoshi
(TOYO Corporation, One Technologies Company, Chuo-ku, Tokyo 103-8284, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
AM-FPD
ページ:
1-2
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)