文献
J-GLOBAL ID:201902269281325284
整理番号:19A1384890
FinFETのアナログ性能に及ぼすサブ10nmフィン幅の影響【JST・京大機械翻訳】
Effect of Sub-10nm Fin-widths on the Analog Performance of FinFETs
著者 (7件):
Bhoir Mandar S.
(Indian Institute of Technology Gandhinagar, India)
,
Mohapatra Nihar R.
(Indian Institute of Technology Gandhinagar, India)
,
Chiarella Thomas
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Ragnarsson Lars Ake
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Mitard Jerome
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Terzeiva Valentina
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Horiguchi Naoto
(IMEC, Leuven, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
EDTM
ページ:
7-9
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)