文献
J-GLOBAL ID:201902272626991549
整理番号:19A1485481
再突入脆弱性指数推定のための逐次電気解剖マッピング方法論と予備的結果【JST・京大機械翻訳】
Sequential Electro-Anatomical Mapping Methodology and Preliminary Results for Reentry Vulnerability Index Estimation
著者 (8件):
Orini Michele
(University College London, London, UK)
,
Hanson Ben
(University College London, London, United Kingdom)
,
Taggart Peter
(University College London, London, United Kingdom)
,
Campos Fernando
(King’s College London, London, United Kingdom)
,
Rinaldi Aldo
(King’s College London, London, United Kingdom)
,
Gill Jaswinder
(King’s College London, London, United Kingdom)
,
Bishop Martin
(King’s College London, London, United Kingdom)
,
Lambiase Pier D
(University College London, London, United Kingdom)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
CinC
ページ:
1-4
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)