文献
J-GLOBAL ID:201902274574732014
整理番号:19A2180203
PEC:開口位置誤差補償による合成開口RFID位置決め【JST・京大機械翻訳】
PEC: Synthetic Aperture RFID Localization with Aperture Position Error Compensation
著者 (5件):
Zhao Run
(Department of Computer Science and Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China)
,
Wang Dong
(School of Software, Shanghai Jiao Tong University, China)
,
Zhang Qian
(School of Software, Shanghai Jiao Tong University, China)
,
Chen Haonan
(School of Software, Shanghai Jiao Tong University, China)
,
Xu Huatao
(School of Software, Shanghai Jiao Tong University, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
SECON
ページ:
1-9
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)