文献
J-GLOBAL ID:201902278312365582
整理番号:19A1696663
ノイズ源振幅変調に基づくIC毎の遠方界放射強度および位相推定
Intensity and Phase Estimation of Far-Field Emission of Individual ICs by Using Noise Source Amplitude Modulation Technique
著者 (4件):
五百旗頭健吾
(岡山大 大学院自然科学研究科)
,
吉野慎平
(岡山大 大学院自然科学研究科)
,
矢野佑典
(岡山大 大学院自然科学研究科)
,
豊田啓孝
(岡山大 大学院自然科学研究科)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
119
号:
20(EMCJ2019 13-17)(Web)
ページ:
19-24 (WEB ONLY)
発行年:
2019年05月03日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)