文献
J-GLOBAL ID:201902278427125267
整理番号:19A2817902
負の微分コンダクタンス(NDT)を考慮したトンネル電界効果トランジスタ(TFET)の設計ガイドライン【JST・京大機械翻訳】
Design guideline of tunnel field-effect transistors (TFETs) considering negative differential transconductance (NDT)
著者 (2件):
Lee Jang Woo
(Department of Electronic Eng., Sogang Univ., 35 Baekbeom-ro, Mapo-gu, Seoul 04107, Republic of Korea)
,
Choi Woo Young
(Department of Electronic Eng., Sogang Univ., 35 Baekbeom-ro, Mapo-gu, Seoul 04107, Republic of Korea)
資料名:
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻:
163
ページ:
Null
発行年:
2020年
JST資料番号:
H0225A
ISSN:
0038-1101
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)