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文献
J-GLOBAL ID：201902278666061651
整理番号：19A0427923
誘電体膜の原子間力顕微鏡を用いた誘電率測定:システム理論アプローチ【JST・京大機械翻訳】
Dielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach
Cruz-Valeriano E.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Guzman-Caballero D. E.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Escamilla-Diaz T.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Gutierrez-Peralta A.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Davila Susana Meraz
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Torres-Ochoa J. A.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Arciniega J. J. Gervacio
(CONACYT-Facultad de Ciencias Fisico Matematicas, Benemerita Universidad Autonoma de Puebla, Puebla, Puebla, Mexico)
,
Murillo-Bracamontes E. A.
(CNyN-UNAM, Ensenada, Baja California, Mexico)
,
Enriquez-Flores C. I.
(Facultad de Ciencias Fisico Matematico, Universidad Autonoma del Estado Chiapas, Chiapas, Mexico)
,
Ramirez-Bon R.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
,
Palmerin Joel Moreno
(Departamento de Minas, Metalurgia y Geologia, Universidad de Guanajuato, Guanajuato, Guanajuato, Mexico)
,
Yanez-Limon J. M.
(CINVESTAV, Queretaro, Queretaro, Mexico)
資料名：
Applied Physics. A. Materials Science & Processing
(Applied Physics. A. Materials Science & Processing)
巻： 124 号： 10 ページ： 1-9 発行年： 2018年
JST資料番号： D0256C ISSN： 0947-8396 CODEN： APHYCC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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