文献
J-GLOBAL ID:201902279607420686
整理番号:19A1827423
論理のためのInGaAsの再評価:サブ10nmフィン幅FinFETにおける移動度抽出【JST・京大機械翻訳】
Reassessing InGaAs for Logic: Mobility Extraction in sub-10nm Fin-Width FinFETs
著者 (4件):
Cai Xiaowei
(Microsystems Technology Laboratories, Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA, 02139, U.S.A)
,
Vardi Alan
(Microsystems Technology Laboratories, Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA, 02139, U.S.A)
,
Grajal Jesus
(ETSI Telecomunicacion, Universidad Polite ́cnica de Madrid, C Ramiro de Maeztu 7, Madrid, 28040, Spain)
,
del Alamo Jesus A.
(Microsystems Technology Laboratories, Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA, 02139, U.S.A)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
VLSI Technology
ページ:
T246-T247
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)