文献
J-GLOBAL ID:201902279710819266
整理番号:19A0512024
SFQ回路の試験可能性のための設計【JST・京大機械翻訳】
Design for Testability of SFQ Circuits
著者 (2件):
Krylov Gleb
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Rochester, Rochester, USA)
,
Friedman Eby G.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Rochester, Rochester, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
27
号:
8
ページ:
ROMBUNNO.1302307.1-7
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)