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文献
J-GLOBAL ID：201902280562122760
整理番号：19A1386680
有機薄膜トランジスタのためのI-V特性劣化のコンパクトモデル【JST・京大機械翻訳】
A compact model of I -V characteristic degradation for organic thin film transistors
Saito Michiaki
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto, 606-8501, Japan)
,
Shintani Michihiro
(Graduate School of Science and Technology, Nara Institute of Science and Technology, 8916-5 Takayama-cho, Ikoma, Nara, 630-0192, Japan)
,
Kuribara Kazunori
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki, 305-8565, Japan)
,
Ogasahara Yasuhiro
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki, 305-8565, Japan)
,
Sato Takashi
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto, 606-8501, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： ICMTS ページ： 194-199 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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