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J-GLOBAL ID:201902280904218349   整理番号:19A1113394

全電離線量と変位放射線損傷により誘導されたPPD CISsにおける画像遅延劣化の解析【JST・京大機械翻訳】

Analysis of Image Lag Degradation in PPD CISs Induced by Total Ionizing Dose and Displacement Radiation Damage
著者 (8件):
Wang Zujun
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)
Xue Yuanyuan
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)
Liu Jing
(School of materials science and engineering, Xiangtan University, Hunan, 411105, China)
Chen Wei
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)
Ma Wuying
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)
He Baoping
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)
Yao Zhibin
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)
Sheng Jiangkun
(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect, Northwest Institute of Nuclear Technology, 710024, China)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: RADECS  ページ: 1-5  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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