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文献
J-GLOBAL ID：201902283737815544
整理番号：19A2490350
負電圧印加下のマイクロメータスケールの表面ギャップを横切る破壊現象【JST・京大機械翻訳】
Breakdown phenomena across micrometer scale surface gap under negative voltage application
Iwabuchi Hiroyuki
(Yokohama National University, Faculty of Engineering, 79-5 Tokiwadai, Hodogaya-ku, Yokohama, 240-8501 Japan)
,
Oyama Tsutomu
(Yokohama National University, Faculty of Engineering, 79-5 Tokiwadai, Hodogaya-ku, Yokohama, 240-8501 Japan)
,
Kumada Akiko
(The University of Tokyo, Department of Engineering and Information Systems, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo, 113-8656 Japan)
,
Hidaka Kunihiko
(The University of Tokyo, Department of Engineering and Information Systems, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo, 113-8656 Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
(IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 26 号： 5 ページ： 1377-1384 発行年： 2019年
JST資料番号： W0578A ISSN： 1070-9878 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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