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文献
J-GLOBAL ID：201902284337645332
整理番号：19A1932893
真空アーク遮断後の微粒子によって引き起こされた後期ブレークダウン【JST・京大機械翻訳】
Late Breakdowns Caused by Microparticles After Vacuum Arc Interruption
Ejiri Haruki
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Kumada Akiko
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Hidaka Kunihiko
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Taguchi Yuki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Inada Yuki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Yamano Yasushi
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Iwabuchi Hiroyuki
(Division of Intelligent Systems Engineering, Yokohama National University, Yokohama, Japan)
,
Kaneko Eiji
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Nishihara, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Plasma Science
(IEEE Transactions on Plasma Science)
巻： 47 号： 8 ページ： 3392-3399 発行年： 2019年
JST資料番号： D0036B ISSN： 0093-3813 CODEN： ITPSBD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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