文献
J-GLOBAL ID:201902285183006439
整理番号:19A1415503
SIトレーサビリティのための電場計測:原子蒸気中の電磁誘導透過における系統的測定不確実性【JST・京大機械翻訳】
Electric field metrology for SI traceability: Systematic measurement uncertainties in electromagnetically induced transparency in atomic vapor
著者 (6件):
Holloway Christopher L.
(National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, Colorado 80305, USA)
,
Simons Matt T.
(National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, Colorado 80305, USA)
,
Gordon Joshua A.
(National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, Colorado 80305, USA)
,
Dienstfrey Andrew
(National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, Colorado 80305, USA)
,
Anderson David A.
(Rydberg Technologies, LLC, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
,
Raithel Georg
(Rydberg Technologies, LLC, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
121
号:
23
ページ:
233106-233106-9
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)