文献
J-GLOBAL ID:201902286888267724
整理番号:19A1263007
CdSe薄膜の構造,光学および電気特性における厚み依存変化【JST・京大機械翻訳】
Thickness dependent variation in structural, optical and electrical properties of CdSe thin films
著者 (2件):
Choudhary Ritika
(Department of Physics, National Institute of Technology, Kurukshetra, Haryana, India)
,
Chauhan R. P.
(Department of Physics, National Institute of Technology, Kurukshetra, Haryana, India)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
30
号:
6
ページ:
5753-5759
発行年:
2019年
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)