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文献
J-GLOBAL ID：201902289215508902
整理番号：19A2180013
低THz領域におけるその場材料特性化のためのコンパクトな測定装置【JST・京大機械翻訳】
A Compact Measurement Setup for In-Situ Material Characterization in the Lower THz Range
Barowski Jan
(Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany)
,
Jebramcik Jochen
(Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany)
,
Alawneh Isam
(Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany)
,
Sheikh Fawad
(Institute of Digital Signal Processing University of Duisburg-Essen, Duisburg, 47057, Germany)
,
Kaiser Thomas
(Institute of Digital Signal Processing University of Duisburg-Essen, Duisburg, 47057, Germany)
,
Rolfes Ilona
(Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： IWMTS ページ： 1-5 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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