文献
J-GLOBAL ID:201902289651953418
整理番号:19A1873436
シンクロトロンX線トポグラフィーによる物理気相輸送成長AlN単結晶基板における転位とそれらのアレイの観察
Observation of dislocations and their arrays in physical vapor transport-grown AlN single-crystal substrate by synchrotron X-ray topography
著者 (7件):
YAO Yongzhao
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
,
SUGAWARA Yoshihiro
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
,
ISHIKAWA Yukari
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
,
OKADA Narihito
(Yamaguchi Univ., Yamaguchi, JPN)
,
TADATOMO Kazuyuki
(Yamaguchi Univ., Yamaguchi, JPN)
,
TAKAHASHI Yumiko
(Nihon Univ., Funabashi, JPN)
,
HIRANO Keiichi
(High Energy Accelerator Res. Organization, Tsukuba, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
58
号:
SC
ページ:
SCCB29.1-SCCB29.5
発行年:
2019年06月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)