文献
J-GLOBAL ID:201902298830775815
整理番号:19A2332630
ホットC+イオン注入プロセスを用いたバルクSi基板中のSiCナノドット形成
SiC nano-dot formation in bulk-Si substrate using hot-C+-ion implantation process
著者 (6件):
MIZUNO Tomohisa
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
,
YAMAMOTO Masaki
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
,
NAKADA Shinji
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
,
IRIE Sho
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
,
AOKI Takashi
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
,
SAMESHIMA Toshiyuki
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
58
号:
8
ページ:
081004.1-081004.12
発行年:
2019年08月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)