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文献
J-GLOBAL ID:201902298830775815   整理番号:19A2332630

ホットC+イオン注入プロセスを用いたバルクSi基板中のSiCナノドット形成

SiC nano-dot formation in bulk-Si substrate using hot-C+-ion implantation process
著者 (6件):
MIZUNO Tomohisa
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
YAMAMOTO Masaki
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
NAKADA Shinji
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
IRIE Sho
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
AOKI Takashi
(Kanagawa Univ., Kanagawa, JPN)
SAMESHIMA Toshiyuki
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 58  号:ページ: 081004.1-081004.12  発行年: 2019年08月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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